LED光源装置×外観検査の選定ガイド|ケンサコウ

外観検査向け
検査目的で選ぶ
LED光源装置ガイド

LED光源装置は、検査の目的や使用する工程によって、
求められる性能や制御方式が大きく異なる装置です。
しかし仕様の違いが検査結果にどう関わるかは
分かりづらく、選択に迷いがち。
このページでは、画像処理・自動検査・目視検査といった
各検査に適したLED光源装置を紹介します。

THREE SELECTIONS

【外観検査向け】
LED光源装置
おすすめ3選

外観検査では、“何をどのように検出したいか”によって、求められる照明の要件が大きく変わります。
ここでは、装置の特徴と検査目的を掛け合わせ、目的に応じて活用しやすいLED光源装置を厳選しました。

μm精度の画像処理向け
寸法や位置ズレ
正確に測ることができる

ユーテクノロジー

製品画像
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/product/2531)
導入しやすい業界例
  • 半導体業界
  • 電子部品業界など
要件を満たせる検査例
  • 寸法検査
  • 位置ずれ検出
  • 貼り合わせ精度検査
  • パターンずれ検出
  • 形状検査
ユーテクノロジーが
選ばれる理由
  • 特許取得※1の非結像光学系により、1,000nm以上のSWIR領域でも鮮明に映し出す
  • 自社製造の光源とファイバーにより、適切な組み合わせで光ロスやムラを抑制して微細欠陥を可視化
  • 半導体のPINアサイン確認や基板実装後の部品検査など、高精度検査の導入実績あり※2
0.1〜1mmの自動検査向け
欠けや異物
安定的に検出できる

アイテックシステム

製品画像
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/series/llbk/)
導入しやすい業界例
  • 自動車部品業界
  • 食品・飲料業界など
要件を満たせる検査例
  • 異物混入検査
  • 欠け検出
  • バリ検出
  • 色ムラ検査
アイテックシステムが
選ばれる理由
  • 230,000lxの高照度でコントラストが明瞭になり、微細な不良を見逃しにくい
  • LANや端子台で照明制御が可能で、カメラやPLCとも連携しやすく自動検査の構築がスムーズ
  • 冷却と定電流制御で照度が安定し、常時点灯や連続稼働が前提でも判定ブレが起きにくい
手作業の目視検査向け
印字や組付け不良
はっきり確認できる

中央精機

製品画像
画像引用元:中央精機公式HP(https://www.chuo.co.jp/contents/hp0251/list.php?CNo=251&ProCon=4955)
導入しやすい業界例
  • 化粧品・日用品業界
  • 電気機械器具業界など
要件を満たせる検査例
  • ラベル位置検査
  • 印字抜け検査
  • 印字不良検査
  • ネジの有無検査
  • 組付けミス
  • 方向ずれ検査
中央精機が
選ばれる理由
  • 約45,000lxの自然な明るさで、ラベル印字の擦れやかすれをはっきり確認
  • ダイヤルで直感的に調光でき、作業者や環境に合わせた見え方調整ができる
  • 筐体幅80mm未満・高さ144mmのコンパクト設計で、狭い作業空間にも設置しやすい
※1 特許7060932 参照元:J-PlatPat(特許情報プラットフォーム)公式HP(https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja
※2 参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case
IN DETAIL

検査目的で選ぶLED光源装置
おすすめ3選を詳しく紹介

ここでは、検査目的別のおすすめの装置について、特徴や導入事例、製品情報を詳しくご紹介します。
LED光源装置を選定する際の参考にしてください。

μm精度の画像処理向け
寸法や位置ズレ
正確に測ることができる

ユーテクノロジー

HPキャプチャ画像
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/)

μm精度の画像処理に
向いている理由

特許取得技術により
エッジや位置ズレを安定して検出

外観検査で重要となるエッジや位置ズレ判定は、一般的な光学系では光ムラや散乱により輪郭がぼやけ、安定した検出が困難です。
ユーテクノロジーのLED光源装置は、特許取得の非結像光学系を採用。レンズで像を結ばない技術で光を制御することにより、光ファイバーへの入射効率と照度の均一性を高めます。
さらに、出力光量を監視して経時変化や温度変化による光量の揺らぎを自動補正。常に安定した明るさを維持し、エッジ検出や位置ズレ判定をμm精度で行うことができます。

※特許7060932 参照元:J-PlatPat(特許情報プラットフォーム)公式HP(https://www.j-platpat.inpit.go.jp/c1801/PU/JP-7060932/15/ja
光源とファイバーの一体設計で
光ロスやムラを低減

光源とファイバーを自社で開発・製造しており、用途に応じた適切な組み合わせ設計が可能。接続部で生じやすい光ロスやムラを抑え、対象物へ均一に光を届けることができます。
この安定した光は、寸法測定や位置ズレ判定の再現性を高めるだけでなく、半導体ウエハー上の微細パターンやアライメントマークを鮮明に捉えるためにも有効です。
欠陥見逃しや誤判定を防ぎ、連続稼働が求められる生産ラインにおいても安定性を維持します。

ユーテクノロジーの
LED光源装置の導入事例

ウエハー透過による
パターン検出
LED光源装置の導入前の写真
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2809)
LED光源装置の導入後の写真
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2809)
用途 半導体ウエハーの品質検査や工程管理における、裏面パターンの可視化
導入背景 ウエハー裏面にカメラや光学系を設置できないため940nmまでの照明では透過できず、表面状態しか確認できない
導入効果 1,000nm以上の波長光を採用することで透過観察が可能になり、タクトタイムの厳しい検査工程にも対応
参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2809
近赤外を使用したフィルムの
アライメント(貼り合わせ精度検査)
LED光源装置の導入前の写真
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2816)
LED光源装置の導入後の写真
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2816)
用途 基板とフィルムの位置合わせ工程における、アライメントマークの検出と貼り合わせポイントの確認
導入背景 可視光照明ではマークのコントラストやフィルム透過率が低く、貼り合わせ位置の視認性が悪化し精度が低下
導入効果 近赤外照明によりマークのコントラストとフィルム透過率が向上し、貼り合わせ位置の視認性改善とアライメント精度向上を実現
参照元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/case/2816

ユーテクノロジーの
製品のスペック

製品の写真
画像引用元:ユーテクノロジー公式HP(https://www.u-technology.jp/product/2531)
製品名・
型式
ハイパワー近赤外LED光源シリーズ
超高出力 SWIR LED光源
UFLS-501-12IR-※※※※-UT-EI-FB
対応波長 1060/1100/1150/1200/1300/1450/1550nm
最大光出力 65W
照度制御 フィードバック制御:あり
(ファイバー出射面でモニタリング)
調光方式:RS232C/Ethernet/アナログ0〜5V
調光分解能:約960段階
応答速度:1ms以下(最大20kHz)
光学設計 非結像光学系(特許出願済)
COB-LED採用、照度ムラ抑制構造
冷却方式 強制空冷(吸気:正面/排気:背面)
寸法/重量 102×143×92mm(突起部含まず)/約1.3kg
対応ファイバー口金 記載なし
温度/湿度 温度5〜40℃/湿度20〜80%RH(非結露)

ユーテクノロジーの
会社概要

本社所在地 東京都板橋区成増2-10-3 三栄ドメール305
電話番号 03-6904-3498
公式URL https://www.u-technology.jp/
設立年月日 1992年1月
0.1〜1mmの自動検査向け
欠けや異物
安定的に検出できる

アイテックシステム

HPキャプチャ画像
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/)

0.1~1mmの自動検査に
向いている理由

超高照度×精密調光で
微小欠陥を鮮明に検出

0.1〜1mmの欠陥を自動検査する場合、反射や透過の影響でコントラストが低下し、判定が不安定になりがちです。
アイテックシステムのLED光源装置は、最大230,000lxの高照度と1,000階調の精密調光機能を搭載。素材や部位ごとに光量を細かく制御できるため、わずかな欠けや異物でも明暗差を確保。欠陥を安定して検出する環境を構築します。
自動車部品や食品など、異物や欠損の見逃しが重大なクレームにつながる業界でも活用可能です。

高速ラインの
連続稼働に適応し
安定した検査体制を支える

LAN/端子台による外部制御に対応しており、検査装置との連携や自動化ラインへ導入しやすいのも特徴です。工程変更や量産立ち上げ時でも、照明条件をシステム側から一括管理できるため、段取り替えに要する時間と工数を抑えられます。
さらに、FAN冷却と定電流制御によって光量の変動を低減し、長時間の全数検査でも判定のばらつきを防止。安定した検査精度で、高速ラインの連続稼働を支えます。

アイテックシステムの
LED光源装置の導入事例

金属部品の外観検査
LED光源装置の導入前の写真
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/imaging_case-study/)
LED光源装置の導入後の写真
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/imaging_case-study/)
用途 チップコンデンサのコンタクト部外観検査
導入背景 拡散光照明では平面が強調されず不良を見落とす
導入効果 LLBG(LED光源装置)+テレセンレンズで平面を鮮明化し、検出精度を向上
参照元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/imaging_case-study/
鋼板の表面欠陥検査
LED光源装置の導入前の写真
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/imaging_case-study/)
LED光源装置の導入後の写真
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/imaging_case-study/)
用途 鋼板の自動外観検査における打痕検査
導入背景 直線照明のローアングル照射では、浅い打痕の検出が困難
導入効果 コントラストが明確になり、浅い打痕まで黒点として検出可能になった
参照元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/imaging_case-study/

アイテックシステムの
製品のスペック

製品の写真
画像引用元:アイテックシステム公式HP(https://aitecsystem.co.jp/series/llbk/)
製品名・
型式
高輝度ライティングBOX LLBKCシリーズ LLBKC-BA-W
対応波長 記載なし
最大光出力 125,000LxM
照度制御 記載なし
調光方式 記載なし
調光分解能 1,000階調(0~999)
応答速度 記載なし
光学設計 記載なし
冷却方式 FAN冷却(側面吸気/背面排気)
寸法/重量 112×110×110mm/1.4kg
対応ファイバー口金 ガラスファイバー
温度/湿度 温度0~40℃/湿度30~85%RH(非結露)
※バンドル径Φ8mmのライトガイド側面から150mm離れた位置で測定した初期照度(アイテックシステムの測定治具で測定時の照度)

アイテックシステムの
会社概要

本社所在地 神奈川県横浜市緑区青砥町466-1
電話番号 045-939-0222(代表)
公式URL https://aitecsystem.co.jp
設立年月日 1984年7月
手作業の目視検査向け
印字や組付け不良
はっきり確認できる

中央精機

HPキャプチャ画像
画像引用元:中央精機公式HP(https://www.chuo.co.jp/index.php)

手作業の目視検査に
向いている理由

視認性を高める白色光で
検査基準のバラつきを防止

中央精機のLED光源装置SPL-100Aは、ライトガイド用照明装置として約45,000lxの自然な白色光を安定供給します。
まぶしさを抑えた光で印字の擦れやラベル不良を鮮明に浮かび上がらせ、目視検査での見落としやバラつきを抑制。検査の属人化を防ぎ、安定した検査品質を維持します。

作業者の目の負担を軽減し
長時間の目視検査を
サポート

目視検査では、集中力の持続や眼精疲労が大きな課題です。SPL-100Aは連続調光機能で対象に合わせた照度を確保。作業者の疲労を軽減し、集中力を持続させることで不良の見逃しを防ぎます。
さらに、ライトガイドに安定した光を供給できるため、狭所や複雑形状の検査にも柔軟に対応可能。作業環境の快適さと検査精度の安定化を両立します。

中央精機の
LED光源装置の導入事例

公式HPに記載がありませんでした。

中央精機の
製品のスペック

製品の写真
画像引用元:中央精機公式HP(https://www.chuo.co.jp/contents/hp0251/list.php?CNo=251&ProCon=4955)
製品名・
型式
SPL-100A(LED照明装置)
対応波長 記載なし
最大光出力 約45,000Lx
照度制御 記載なし
調光方式 前面ダイヤル(連続調光)
調光分解能 記載なし
応答速度 記載なし
光学設計 記載なし
冷却方式 記載なし
寸法/重量 約79.4×200×144mm/1.8kg(電源ケーブルを除く)
対応ファイバー口金 記載なし
温度/湿度 温度0~40℃/湿度20~80%RH(非結露)
※ライトガイドLGG-1000SFを使用し出射端面から50mm離れた場所における初期照度の参考値です。

中央精機の
会社概要

本社所在地 東京都千代田区神田淡路町1-5 及川ビル2F
電話番号 03-3257-1991
公式URL https://www.chuo.co.jp/
設立年月日 1939年9月7日

LED光源装置を用いて外観検査の精度を高めるためには、メーカーごとの強みや製品を把握しておくことがポイントです。
ここでは、LED光源装置メーカーの紹介と選び方について解説します。

視野全体を均一に照射し、µm精度の寸法測定や位置ずれを正確に判定できる独自技術を採用
光源とファイバー一体設計で、自動フィードバックによる安定した光量制御を実現します。

対応する
検査
寸法検査、位置ずれ検出、貼り合わせ精度検査、パターンずれ検出、形状検査など
所在地 東京都板橋区成増2-10-3 三栄ドメール305
電話番号 03-6904-3498
公式URL https://www.u-technology.jp/

最大23万lxの高照度と均一照射で、微細な外観欠陥を正確に捉える「LLBKCシリーズ」は代表的。
ファンによる冷却システムと定電流制御方式で、高速な生産ラインの安定した長時間稼働を支えます。

対応する
検査
異物混入検査、欠け検出、バリ検出、色ムラ検査など
所在地 神奈川県横浜市緑区青砥町466-1
電話番号 045-939-0222(代表)
公式URL https://aitecsystem.co.jp

UV励起蛍光検査向けの高出力LED光源装置は、独自の空冷技術により水冷不要で22W/cm²級の高照度を実現
検査対象にダメージを与えず高感度撮像を可能にし、長時間運転でも安定して照射できます。

対応する
検査
UV励起蛍光検査、異物検査、フィルム検査、表面欠陥検査など
所在地 静岡県浜松市中央区砂山町325-6 日本生命浜松駅前ビル
電話番号 053-452-2141
公式URL https://www.hamamatsu.com/jp/ja/
もっと見る

時計製造で培った精密加工技術をもとにした、照明の安定性と条件再現性が高い製品を提供
ファイバー光源や高輝度LED照明を展開し、MSPA・HDLAなど多様な検査用途に対応します。

対応する
検査
ハイスピード検査、目視検査、塗装・色ムラ検査など
所在地 東京都豊島区北大塚1-28-3
電話番号 03-3918-5237(代表)
公式URL https://www.h-repic.co.jp/

光源・ライトガイド・レンズを一括選定し、部品間の相性リスクを最小化します。検証工数の削減や撮像再現性、システム適合性が向上
多様な照明方式が揃い、各種検査工程による使い分けが可能です。

対応する
検査
目視外観検査、ハイスピード検査、顕微鏡検査など
所在地 東京都中野区中野5-68-10 KT中野ビル
電話番号 03-6840-1105(代表)
公式URL https://www.kenko-tokina.co.jp/

「高輝度・長寿命・省電力」のLED光源装置で、TCO削減と検査効率向上に貢献。
高出力のデジタル調光・外部制御に対応し、高速ライン検査やFA統合において再現性と安定性を確保します。

対応する
検査
凹凸ワーク外観検査、刃物欠陥検査、パターンずれ検査など
所在地 東京都中野区弥生町4-12-17
電話番号 03-3383-6301
公式URL https://www.seiwaopt.co.jp/

CCS

既存のライトガイドを活かした高出力のLED光源により、装置改造を抑えた導入が可能です。
多彩な外部I/Fと細かな調光制御でレシピ再現性を確保。長時間稼働の安定性を維持できる設計と保全性の高さに強みがあります。

対応する
検査
外観形状検査、印刷・パターン検査、異物検査など
所在地 京都府京都市上京区室町通出水上ル近衛町38
電話番号 075-415-8280(代表)
公式URL https://www.ccs-inc.co.jp/

自然で目に優しい高照度LED光源を提供し、目視検査の負担を軽減します。代表機SPL-100Aは約4.5万lxを確保しつつ直感的に調光可能
用途に応じた照明方式や顕微鏡連携にも対応し、安定した検査環境を実現します。

対応する
検査
ラベル位置検査、印字抜け検査、印字不良検査、ネジの有無検査、組付けミス、方向ずれ検査など
所在地 東京都千代田区神田淡路町1-5 及川ビル2F
電話番号 03-3257-1991
公式URL https://www.chuo.co.jp/

光学メーカーの知見を活かし、検査精度を高めるLED光源装置を展開しています。主力機「SLA-100B」はファンレス構造で振動を排除し、ハロゲン同等の高輝度を維持。顕微鏡観察や精密検査において、ノイズのないクリアな視認性を実現します。

対応する
検査
微細部品のキズ・汚れ検査、ウエハ・ガラス基板の表面欠陥検査、光学素子の角度・平行度測定、ステージの真直度・平面度測定、光軸アライメント調整、透過率・反射率の測定など
所在地 〒350-1297 埼玉県日高市下高萩新田17-2(本社・日高工場)
電話番号 042-985-6221(代)
公式URL https://jp.optosigma.com/ja_jp/

メタルハライドランプに匹敵する高輝度と均一性を両立したLED光源装置を提供し、高速ライン検査の精度向上に貢献します。独自のファンレス設計により、クリーンルームでも振動や埃を抑えて使用可能。豊富な製品群で、微細な欠陥検出を強力に支援します。

対応する
検査
フィルム・シートの表面欠陥検査、ガラス・液晶パネルの透過検査、不織布・金属箔のピンホール検査、半導体ウェハーの外観検査、電子部品・基板の実装検査など
所在地 〒252-0243 神奈川県相模原市中央区上溝1880番地2 SIC-3内
電話番号 042-786-0377(代表)
公式URL https://www.revox.jp/

ケイエルブイは、従来の放電ランプを上回る高出力や高安定を実現した装置を手がけている企業です。内蔵するLEDは選択可能となっているほか、LEDで高安定なので、ランニングコスト削減につながるのが魅力です。また、航空機エンジンや自動車部品の検査など高い水準が用いられる現場で使用できる装置も取り扱っています。

対応する
検査
UV樹脂硬化や半導体ウエハーの周辺露光の検査、航空機エンジンや自動車部品の検査など
所在地 〒101-0052 東京都千代田区神田小川町1-1
電話番号 03-3258-1238
公式URL https://www.klv.co.jp/

朝日分光は、豊富な波長ラインナップから選択可能なハイパワー光源を取り扱っている企業です。光レドックス触媒反応や蛍光確認など光化学反応用として使用可能とされています。集光照明を簡単に行えるなど使い勝手に優れています。また、検査照明やキュアリング、半導体関連など各種研究開発の分野において活用可能な点が特徴です。

対応する
検査
フォトクロミズムや高分子、有機合成、光触媒、人工光合成検査照明やキュアリング、半導体関連など各種研究開発の分野など
所在地 東京都北区上十条2-13-1 ガーデニアビル4F
電話番号 03-3909-1151
公式URL https://www.asahi-spectra.co.jp/index.asp

創造科学研究所の手がけるLED光源装置(PER-AMP)は、反応容器内に直接照射が可能な光化学反応用LED光源装として知られています。発熱が少なく、温度コントロールが容易な点も特徴です。コンパクトで小スケール実験に最適なので、マイクロスケールの試験に対応している企業に適しています。

対応する
検査
コンパクトで小スケール実験や検査など
所在地 岡山県岡山市北区 牟佐 1039
電話番号 086-229-1212
公式URL https://icc-ts.com/

日本ピー・アイは、光源ユニットと定電流駆動方式を取り入れた電源・制御モジュールの掛け合わせにより、効率的な照射と安定した動作を両立した装置を取り扱っている企業です。顕微鏡や画像処理装置への接続をはじめ、煩雑なレイアウトにも対応しやすく設計されています。取り扱う装置は、長時間の連続照射でも安定的に高輝度を維持できるのが特徴です。

対応する
検査
顕微鏡照明や画像処理、高速撮影用ストロボ光源など、多彩な産業用途など
所在地 東京都新宿区西新宿3-9-19 イマス西新宿第2ビル 2階
電話番号 03-6300-0311 (代表)
公式URL https://www.npinet.co.jp/

大阪拠点のUV-LED照射装置メーカー。コントローラー内蔵一体型「ULEDN-101」と分離型「NS-ULEDN-102CT」を主力とし、365nm・高出力・長寿命LEDを搭載。製造ライン組み込みを想定した制御・安全機能を備え、産業用検査・接着工程に対応します。

対応する
検査
浸透探傷検査(PT)、UV接着・硬化後の接着確認検査など
所在地 大阪市港区市岡1丁目4番36号
電話番号 06-6584-8193
公式URL https://www.ns-lighting.com/

1990年創業のオプトロンサイエンスは、LED光源装置を国内で設計・製造するメーカーです。主力のAOS-107は干渉縞・スペックルフリーで、365〜850nmの7波長に対応。外観検査ラインへの導入やリプレイスに柔軟に応えます。

対応する
検査
外観検査、UV照射検査、位置確認・アライメント検査など
所在地 東京都文京区本郷3-21-8 ケイアイビル3階
電話番号 03-5800-1341
公式URL https://www.opt-ron.com

丸文株式会社は、世界トップクラスのLEDメーカーと連携し、UV照射から蛍光検査まで対応する光源装置を提供するエレクトロニクス商社です。長寿命・メンテナンスフリー設計で運用コストを抑えつつ、製造ラインの自動化や外観検査の高精度化を支援します。

対応する
検査
外観検査、接着・硬化工程の検査、蛍光検査など
所在地 東京都中央区日本橋大伝馬町8-1
電話番号 公式HPに記載なし
公式URL https://www.marubun.co.jp/

群馬県前橋市に拠点を置くARK TECH株式会社は、UV-LED光源をはじめ半導体・液晶製造向け露光用光源や検査用白色LED光源を自社設計・製造するメーカーです。光学から組立まで社内一貫体制で対応し、5,000台以上の開発実績と1台からの特注対応が強みです。

対応する
検査
外見検査、目視検査、画像検査、クリーンルーム内検査など
所在地 群馬県前橋市元総社町一丁目2番地3 MMビル2F
電話番号 027-255-1117
公式URL https://www.ark-t.com/

外観検査は、使用する照明や設定によって精度が左右されます。
そのため、ワークの素材や形状に合わせて、照明の種類・配置・波長を適切に設計することが重要です。
メタルハライドランプやハロゲンランプをLED化するメリットも併せて確認しておきましょう。

外観検査のハロゲンランプ光源を
LED化するメリットとは?

外観検査で従来広く使われてきたハロゲンランプには、高発熱や短寿命などの課題がありました。
光源のLED化によって、長寿命化による交換工数の削減と、消費電力の低減によるランニングコスト削減が可能になります。

外観検査のメタルハライドランプ
光源をLED化するメリットとは?

メタルハライドランプは高輝度を得やすい一方で、ウォームアップ時間の長さや発熱、短寿命による保守負担が課題でした。
光源のLED化によって、瞬時点灯と光量安定性が得られ、立ち上げ直後から安定した検査が行えます。

外観検査はシリコンウエハーやガラス、金属など素材ごとに適した照明条件が異なります
反射や透過、光沢といった素材特性に応じて光源を選ぶことで、キズやズレ、欠陥の見落としを防ぐことが可能です。
ここでは代表的な素材を取り上げ、それぞれの外観検査のポイントを解説します。

シリコンウエハーのイメージ写真

鏡面反射の影響で、従来光源では微細欠陥の検出が困難でした。
波長制御と高輝度・均一照射に対応したLED光源の使用でコントラストが向上し、微細欠陥を検出。品質保証や歩留まり改善に貢献します。

ガラス基板のイメージ写真

透明性や映り込みにより傷や異物が背景に溶け込みやすく、欠陥の検出が不安定な点が課題です。LED光源の波長選択や均一照射を活用することで、対象部とのコントラストが高まり、微細欠陥を安定して検出できます。

電子部品のイメージ写真

微細化・高密度化により、キズや欠け、目視では見逃されやすい異物の混入が課題。
LED光源装置の導入により、適切な波長や照射方式を選択でき、細かな欠陥も可視化されます。

金属部品のイメージ写真

強い光沢や反射で欠陥のコントラストが弱まり、表面のキズや汚れ、欠けを見落とすリスクがあります。
LED光源の照射方法を柔軟に切り替え、反射の影響を抑えつつ欠陥部分を際立たせることが可能です。

アルミ素材のイメージ写真

表面の強い反射や酸化皮膜の影響で微細なキズや打痕が捉えにくい素材です。LED光源装置で波長や照射角度を調整し、反射の影響を抑えて欠陥部のコントラストを明確化。不良流出リスクの低減につながります。

製品特性や品質基準は業界ごとに異なるため、それぞれに適した外観検査が必要です。
ここでは、半導体や電子部品、医薬品、自動車などの検査手法や導入事例を紹介します。

半導体業界における外観検査は、微細化が進む製品の品質を守るために欠かせない工程です。
ウエハーの欠陥やパターンずれ、チップ表面のクラック、パッケージ工程での印字不良など、確認すべきポイントは多岐にわたります。

電子部品の外観検査は、製品が設計通りに機能し、安全性を維持する上で重要な作業です。
微細化や高密度化された製品は、目視ではキズや欠け、異物混入などの欠陥は見逃されやすく、照明や撮像条件を工夫した検査が求められます。

透明な液体やパッケージ内部の微細な漏れは、背景と同化しやすく通常のカメラでは検出が困難です。水が光を吸収する特性を利用し、特定の波長(SWIRなど)で水分を可視化して検出する手法や、現場での導入事例を紹介します。

食品包装や光学部材に使われる樹脂フィルムは、薄さや透明性、ハレーションの影響で欠陥検出の難易度が高い分野です。フィッシュアイや異物といった欠陥の種類に応じたライティング手法、過検出や見逃しを防ぐためのノウハウなどを解説します。

太陽電池セルの微小クラックは、屋外環境で進展すると断線・出力低下・ホットスポットなどにつながるため、製造段階での検出が重要です。 EL検査(通電して近赤外発光を撮像)とPL検査(励起光で再結合発光を撮像)を整理し、インライン化しやすいPL検査で 高精度化・タクト短縮に効く光源要件(高出力、均一性・安定性、対象材料に合う波長、撮像・フィルタ含む光学系)を解説します。

インゴットはスライス前に内部の異物・不純物領域を把握できると、歩留まり改善やワイヤーソー工程のトラブル低減に有効です。一般的には赤外(IR)やPLなどの光学計測で内部欠陥/不純物濃度分布を非接触でマッピングし、 不純物位置の特定やプロセス改善へのフィードバックに活用します。

接着剤の塗布工程では、塗りムラや充填不足が製品の安全性に直結するため、定量的な面検査が不可欠です。アクティブサーモ法や赤外線カメラによる透明な接着剤の非破壊・非接触評価を整理し、熱影響を抑え均一に照射できるLED光源導入による検査精度の安定化について解説します。

MLCCや半導体チップの微細なクラックは製品の信頼性低下を招くため、確実な検出が求められます。外観・X線・電気的検査の特徴と物理的リスクを整理し、非接触の光学検査におけるLED光源を用いた高輝度・均一照射による検査精度の向上や業務効率化のポイントを解説します。

外観検査では、照明が製品の欠陥有無や品質を左右します。
特にLED照明は、高輝度・長寿命・省電力に加え、
波長や照射方式を柔軟に選べるため、さまざまな検査工程で活用可能です。

赤外LED光源とは?

赤外LED光源は、人の目には見えない近赤外光を利用し、可視光では難しい外観検査を可能にする照明です。
反射の影響を受けにくいため、光沢のある金属や包装材でも欠陥部を明瞭に検出。医療や半導体分野など反射抑制が必要な現場でも活用され、検査精度と信頼性の向上が期待できます。

UV-LED光源とは?

UV-LED光源は、紫外線を利用して肉眼では捉えにくい微細な傷や汚れを浮かび上がらせる検査用照明です。紫外線を照射すると、対象物が蛍光を発したり光を吸収したりするため、隠れた欠陥を可視化。
可視光では見えにくい割れやリークも検出し、航空・自動車産業の非破壊検査などでも広く利用されています。

画像処理は「当て方」で決まる!照射方式によるLED照明の分類と活用法

外観検査の精度はLEDの照射方式で決まります。同軸やドーム、透過、ローアングルなど、ワークの材質や形状に合わせた「当て方」で明暗差を最大化することが重要です。 特性を見極めたライティングの工夫が、画像処理システムの安定稼働と自動化を成功へと導く鍵となります。

ワーク(対象物)の材質・目的別!外観検査用LED照明の選び方

外観検査の精度はLED照明の選定で決まります。金属・樹脂・透明体など、ワークの材質に合わせて反射やコントラストを制御するLED照明の選び方を解説。 理論だけでなく、現場での実機テストでライティングを追い込むことが、高精度な検査を実現する最短ルートです

検査のイメージ

検出したい不良・欠陥から逆引き!

目的別で比較!
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